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  • AX8300Si半導體微聚焦X射線檢測設備
    AX8300Si半導體微聚焦X射線檢測設備

    產品型號

    AX8300Si

    廠商性質

    代理商

    更新時間

    2025-07-18

    瀏覽次數

    375

    產品描述

    半導體微聚焦X射線檢測設備專為半導體封裝與電子元器件設計的高精度無損檢測設備,采用微米級聚焦X射線技術,實現芯片內部結構的二維/三維可視化檢測,滿足半導體行業對缺陷分析的嚴苛要求。
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