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| 品牌 | Thermofisher Scientific/賽默飛世爾 | 應用領域 | 綜合 |
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輝光放電質譜
ELEMENT GD集中了輝光放電和高分辨質譜的優勢，在以下方面有杰出表現：
·樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設計使可縮短換樣和分析時間，顯著提高生產率；
·檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達12個數量級，可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成；
·具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。
GD-MS 技術可用于分析導體和非導體材料，其方法的穩健性確保了不同樣品分析時具備相同程度的靈敏度和數據質量。借 助于專門的制樣和分析流程，可輕松完成低熔點金屬（例如鎵）的測試。上述優勢使得 GD-MS 成為可靠的金屬標分析標準。
Element GD Plus GD-MS 廣泛服務于高純材料制造商及其工業客戶，諸如：
航空航天 - 鎳超合金、涂層和擴散層深度剖面
微電子 - 銅、氧化鋁粉末、濺射靶材
可再生能源 - 硅塊、晶圓、太陽能電池
醫療 / 制藥 / 食品 - 不銹鋼、合金
核工業 - 鈾、核燃料
輝光放電質譜
杰出的分析速度、靈敏度和準確度
Element GD Plus GD-MS 作為當今前沿的分析技術，為固體樣品分析 提供了高通量測試所需的分析速度、靈敏度以及準確度。 專門設計的樣品夾，旨在確保操作簡單、換樣快速，適用于常規操作和 高通量測試。
高通量常規分析 Element GD Plus GD-MS
離子源及樣品夾非設計十分便于 更換樣品，利于常規操作和高通量測試。
制樣簡單
巧妙而簡單的輝光放電離子源設計縮短了換樣時間。
樣品本身置于真空室之中，消除樣品和 GD 放電池之間 泄露風險。
樣品可以快速便捷地從離子源移除、取下、換樣、重新裝回離子源，之后可進行下一次測量。離子源室的開啟和關閉可全自動完成。
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