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| 品牌 | Bruker/布魯克 | 儀器類型 | 實驗室型 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 激光紅外 |
| 應用領域 | 綜合 |
VERTEX NEO R
是一款優異的科研工具，憑借先進的功能，成為各種應用的理想選擇。其高度的靈活性和適配性既支持大型中心實驗室，也支持定制化的實驗裝置，因此即便是要求苛刻的研究環境，也能充分發揮價值。
VERTEX NEO R是聚合物和化學研究領域的強大工具：可使用Bruker FM技術，在遠紅外區域識別聚合物復合材料中的無機填料；支持聚合物的動態研究，以及通過TGA-FT-IR分析揮發性化合物和分解過程；借助中紅外光纖探頭，FTIR可實現實時反應監測與控制；識別無機礦物和顏料，對復雜化學系統進行全面的分析。
FT-IR技術在為可持續能源解決方案提供新材料的多光譜范圍表征，助力綠色技術創新。它能夠在電池研究中監測電極和其他電池材料的效率和降解情況，同時還可表征利用被動輻射冷卻（PRC）和熱輻射技術材料的發射特性。
此外，高分辨率氣相光譜技術與熱重分析（TG）相結合，有助于詳細分析材料的分解過程，適用于先進的環境和能源應用。
FT-IR 技術在催化反應研究中發揮著至關重要的作用，能夠實現實時、毫秒級的光譜分析，顯著增強反應監測能力。反應池中的原位漫反射（DRIFTS ）測量能夠深入解析催化反應的動力學，為催化研究和應用提供全面的分析。此外，借助真空兼容實驗裝置，FT-IR能夠通過TG-FT-IR測定揮發性化合物，并表征分解過程。
FT-IR技術可用于晶體和膜層的高分辨分析，從而深入表征半導體材料。它使用中紅外（MIR）和近紅外（NIR）光致發光解決方案，揭示半導體材料的電子結構，為材料開發提供關鍵見解。此外，FT-IR技術用于硅晶圓中的氧和碳含量測定，確保半導體制造中的精確質量控制。
在固體物理研究中，FT-IR技術能夠對晶體和涂層進行高分辨分析，提供豐富的結構信息。它還使用MIR和NIR光致發光解決方案揭示半導體材料的電子結構，加深對材料微觀層面特性和行為的理解。布魯克還提供廣泛的低溫恒溫器集成方案。
FT-IR技術僅通過VERTEX NEO R搭載的真空ATR技術即可對生物樣品進行無損真空分析，為低濃度化合物檢測提供出色的靈敏度。它能夠詳細研究水環境中的蛋白質（CONFOCHECK），并測定分子的絕對構型（VCD）。此外，借助TG-FT-IR亦可表征醫療藥品的穩定性和揮發性成分，同時還可通過Bruker FM技術在遠紅外區域鑒別活性藥物成分（API）的多晶型結構，FTIR技術具有不可估量的價值。
FT-IR技術在天文學及空間技術中發揮著關鍵作用，可用于測定太空任務采集的樣本的分子組成，為了解外星物質提供寶貴見解。它還有助于表征天文學領域使用的材料和設備，推動技術進步，并加深對太空環境的理解。此外，FT-IR技術支持基質隔離和冰模擬實驗，復制太空環境來研究分子形成、宇宙演化和生命起源。
隨著6G和7G通信頻率向遠紅外（FIR）波段擴展，FT-IR光譜分析技術成為通信技術研究的重要工具。verTera、閉循環Bolometer和FM技術等解決方案對于研究該領域的發射器和接收器至關重要。使用幅度調制步進(AM-Step scan)掃描方法，可進一步提高測量靈敏度，從而對下一代通信技術至關重要的特性進行精確可靠的表征。
全真空光學系統，提供優異的穩定性和靈敏度。
真空 ATR附件，可自由訪問的樣品臺，操作便捷。
RockSolidTM 干涉儀，采用鋁制光學組件，30° 入射角，提高了效率。
MultiTectTM檢測器位，支持多達5個檢測器；DigiTectTM位適配專用檢測器。
充足的空間，可支持12-24小時保持時間的MCT檢測器（可選配蓋）。
雙通道24位 ADC，全數字化信號處理。
輕松升級擴展至近紅外、遠紅外和可見光/紫外譜區。
OPUS TOUCH 軟件控制的觸摸屏，可實現直觀和先進的研發工作流程。
5 個光路輸出端口和 2 個光路束輸入端口，軟件可控。
優異的快速掃描、慢速掃描、步進掃描和交叉時間分辨掃描模式，適用于時間分辨測量。
THz 擴展，采用獨立光路。
兼容所有VERTEX和INVENIO模塊和附件。
大容量樣品倉，可容納體積龐大的附件。
LED指示燈條，用于指示儀器狀態。
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DTC-25導熱儀
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